| �(chǎn)品圖� |
�(chǎn)品名�/型號(hào) |
�(chǎn)品描� |
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L2000是基于射�(RF)電容技�(shù)。將一�(gè)無線電頻率施加在探頭上,通過連續(xù)的分析,確定由周圍環(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù),而且其導(dǎo)電率都不同于空氣,當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗�(fā)生變化�
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AD8系列射頻�(dǎo)納物位計(jì),是在吸收采用國外同類產(chǎn)品的先�(jìn)技�(shù)及功能的基礎(chǔ)上設(shè)�(jì)生產(chǎn)的物位控制儀表。采用三端cote-shield技�(shù),徹底排除了傳感探桿因掛料、溫度、壓力、介�(zhì)密度等因素而引起的誤動(dòng)作,提高了產(chǎn)品的可靠性。可廣泛�(yīng)用于冶金�
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AD8系列射頻�(dǎo)納物位計(jì),是在吸收采用國外同類產(chǎn)品的先�(jìn)技�(shù)及功能的基礎(chǔ)上設(shè)�(jì)生產(chǎn)的物位控制儀表。采用三端cote-shield技�(shù),徹底排除了傳感探桿因掛料、溫度、壓力、介�(zhì)密度等因素而引起的誤動(dòng)作,提高了產(chǎn)品的可靠性�
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RF系列射頻�(dǎo)納物位計(jì)均為利用高頻�(dǎo)納測量技�(shù)原理工作。由于各種物�(zhì)與空氣的�
電常�(shù)和電特性各不相同,故可利用檢測有料或無料時(shí)的導(dǎo)納變化來檢測物料的存在�
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RF系列射頻�(dǎo)納物位計(jì)均為利用高頻�(dǎo)納測量技�(shù)原理工作。由于各種物�(zhì)與空氣的�
電常�(shù)和電特性各不相同,故可利用檢測有料或無料時(shí)的導(dǎo)納變化來檢測物料的存在�
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L2000系列射頻�(dǎo)納物位計(jì)均為利用高頻�(dǎo)納測量技�(shù)原理工作。由于各種物�(zhì)與空氣的�
電常�(shù)和電特性各不相同,故可利用檢測有料或無料時(shí)的導(dǎo)納變化來檢測物料的存�
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RF系列射頻�(dǎo)納物位計(jì)均為利用高頻�(dǎo)納測量技�(shù)原理工作。由于各種物�(zhì)與空氣的�
電常�(shù)和電特性各不相同,故可利用檢測有料或無料時(shí)的導(dǎo)納變化來檢測物料的存在�
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�(dǎo)納物位開�(guān)-遼陽佳譽(yù)儀器儀表有限公�
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高溫射頻�(dǎo)納物位計(jì)是利用被測物�(zhì)與空氣介電常�(shù)不同的特性,檢測有料或無料時(shí)的電容或?qū)Ъ{變化來檢測物料存在的。普通電容式物位�(jì)在探頭產(chǎn)生掛料時(shí),會(huì)�(chǎn)生虛假信�(hào),產(chǎn)生誤檢測并誤�(bào)警�